| Пн | Вт | Ср | Чт | Пт | Сб | Вс |
| | | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | | 27 | 28 | 29 | 30 | 31 | | |
|
|
|
14.09.2010 /Отладочные средства
Программное обеспечение для автоматизированного DC и RF тестирования
 Компания Agilent Technologies анонсировала выпуск программное обеспечение для характеризации и анализа полупроводниковых интегральных схем и приборов IC-CAP и WaferPro. Новое программное обеспечение позволяет проводить автоматизированные DC и RF измерения. Утилита WaferPro позволяет пользователям управлять зондовой станцией в полуавтоматическом или автоматическом режиме, а также позволяет автоматизировать измерения в диапазоне температур. WaferPro позволяет напрямую управлять параметрическими измерительными системами 4070 и 4080 компании Agilent, благодаря чему можно значительно повысить скорость измерений.
По материалам сайта Паяльник (http://news.cxem.net)
|
|
|
|
- радиодетали
- справочник
- форум
- блог
- приборы
- eeDigest
- datasheets
